篩分分析方法*簡單的也是應(yīng)用*早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現(xiàn)今的標(biāo)準(zhǔn)篩*細(xì)一般只到400目，因此，對于小于10μm的超細(xì)粉體來說，不可能用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長和經(jīng)常發(fā)生堵塞，很少在分析中使用。篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級(jí)。對于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用篩分法測定其粒度組成和粒度分布。

  篩分分析采用的套篩一般有兩種：一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩，實(shí)驗(yàn)室可以自己制造，用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150，120，100，80，70，50，25，15，12，6，3，2，1(mm)等，根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩，用于篩分細(xì)度物料，標(biāo)準(zhǔn)套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來直接接取*層篩子的篩下產(chǎn)物)。

  將標(biāo)準(zhǔn)篩按篩孔由大到小，從上到下排列起來，各個(gè)篩子所處的層位叫篩序；在疊好的篩序中，每兩個(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標(biāo)準(zhǔn)篩有一個(gè)作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩，如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩